H.E.L Group

Phi-TEC I

可完全定制的台式绝热(ARC 型)量热仪

Phi-TEC I 是一款台式绝热量热仪,用于加速量热(ARC 型)测试,可在工艺开发和放大过程中表征热失控危害,在实验室规模上再现大体积工业条件。凭借直接测量样品温度和快速响应,它能准确追踪放热事件——确定起始温度(T d)、压力变化速率、绝热温升(ΔT ad,d)和最大反应速率到达时间(TMR d)。

Phi-TEC IPhi-TEC IPhi-TEC IPhi-TEC I
绝热
量热
−40 至 500 °C
温度范围
0 至 200 bar
压力范围
最高 10 kHz
数据采集
T d, ΔT ad, TMR
失控参数
加热-等待-搜索
+ 程序升温 / 等温

概述

真正的绝热条件,确保数据准确

通过温度补偿,Phi-TEC I 使周围环境温度与样品温度保持一致,从而维持真正的绝热条件。这使其能够准确测定关键安全参数,包括放热起始温度、绝热温升和反应动力学。

专为热失控筛查而设计

系统支持多种测试方法,包括加热-等待-搜索(ARC 型量热仪所用的标准加速量热方法)、程序升温和等温研究。借助这些功能,用户可以检测、追踪并全面表征放热行为和潜在的失控情形。

实用的台式操作

Phi-TEC I 样品量小但具有代表性,占地面积紧凑,非常适合实验室环境,为常规热失控筛查和工艺安全评估提供实用、高效的解决方案。

主要技术规格

测试池材质玻璃、不锈钢或哈氏合金
测试池总容积10 mL
温度范围−40 至 500 °C
压力范围0 至 200 bar
数据采集放热期间自动调整以保证分辨率;默认最高 10 Hz,可选高速采样最高 10,000 Hz,适用于极快反应
量热模式绝热(密闭池跟踪与开口池)、加热-等待-搜索、程序升温、等温、组合模式;可选定制方法
安全控制自动、用户可配置的危害检测与停机;每套系统均配备硬件与软件故障保护

应用

热失控表征工艺安全放大起始温度(T d)绝热温升反应动力学

软件、控制与安全

Phi-TEC I 运行 H.E.L 的 WinISO 软件——可定制界面,提供实时传感器读数和用户自定义实验计划,并在整个 H.E.L 产品系列中通用,节省培训时间。

自动、用户可配置的危害检测与停机程序保护操作人员,每套系统均配备硬件与软件故障保护。

常见问题

Phi-TEC I 有哪些用途?
一款台式绝热(ARC 型)量热仪,用于在工艺开发和放大过程中表征热失控危害——在实验室规模上安全地再现大体积工业条件。
它如何保持绝热?
温度补偿使周围环境温度与样品温度保持一致,维持真正的绝热条件,从而获得准确的起始温度、绝热温升和动力学数据。
它测量哪些参数?
起始温度(T_d)、压力变化速率、绝热温升(∆T_ad,d)和最大反应速率到达时间(TMR_d)。
它可以运行哪些测试方法?
加热-等待-搜索、程序升温和等温研究,支持密闭池和开口池绝热测试以及可选的定制方法。
数据采集速度有多快?
放热期间采样频率自动调整以保证分辨率——标配最高 10 Hz,可选高速模式最高 10,000 Hz,适用于极快反应。
是否可以定制?
可以——测试池可选玻璃、不锈钢或哈氏合金材质,并可根据您的化学体系灵活配置测试方法。定制是 H.E.L 的核心理念。

精选文献

Phi-TEC I 已被大量同行评审研究采用,以上仅列举三篇。获取全文可能需要订阅或购买。查看全部文献 →

技术资料

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